Slide

Technologie pomiarowe firmy Sibress
3 kwi 2012 15:15

Na tegoroczną wystawę drupa 2012 firma Sibress przygotowała innowacyjną technologię pomiarową dla wałków anilox, form fleksograficznych i cylindrów wklęsłodrukowych. Wyniki pomiarów dokonanych za pomocą systemu The Anilox and Rotogravure Plate Measuring System MD-3DQC przedstawiane są w postaci wykresu 3D oraz wartości numerycznych. Zastosowanie nowego obiektywu umożliwia pomiar obiektów rastrowych o liniaturze poniżej 25 lpi (10 linii/cm). W najwyższej rozdzielczości obiektyw jest w stanie dokonywać pomiarów rastra o liniaturze 2032 lpi (800 linii/cm). Pełne wyniki pomiarów otrzymuje się w czasie nieprzekraczającym 35s. Pomiar czarnych elastomerów staje się coraz bardziej istotny wraz z pojawieniem się laserowych systemów bezpośredniego grawerowania. Podczas targów firma Sibress zaprezentuje system pomiarowy czarnych elastomerów i warstwy stalowej fotopolimerowych płyt fleksograficznych. Specjalne oprogramowanie zostało opracowane tak, aby w trakcie pomiarów były brane pod uwagę szczególne cechy tych materiałów. System umożliwia również analizowanie warstwy stalowej na płytach typograficznych. Ponadto po raz pierwszy zostanie przedstawiony system pomiarowy ITR (In-the-Round), przeznaczony dla fotopolimerowych tulei. Na daną chwilę system jest przygotowany do pomiaru tulei o szerokości do 140 cm. Jego zaletą są wielokanałowe światła rozmieszczone na całej szerokości roboczej. Dzięki temu pomiary na tulei mogą zostać dokonane w kilku punktach na całej jej szerokości. Nowe funkcje oprogramowania pojawią się w niedawno wprowadzonym na rynek systemie FlexoControl 3D System. Ostatnio opracowany interfejs podzielonego ekranu umożliwia obsługę dwóch kamer, wyświetlających jednocześnie powierzchnię i profil punktu rastrowego. Sterowanie przysłoną pozwala na jednoczesne obejrzenie pełnego obrazu powierzchni i profilu lub indywidualnie każdego z nich. Na podstawie informacji firmy Sibress opracował KS

error: Kopiowanie zabronione!