Drukarnia MWV Manufacturing Bydgoszcz pierwsza w Polsce z Pan4C
19 lut 2014 12:37

W drukarni MWV Manufacturing Bydgoszcz został wdrożony pierwszy w Polsce system standaryzacji maszyn drukujących Pan4C. Metodę Pan4C opracował i opatentował w 2004 r. Dieter Kirchner, berliński drukarz, doradca i specjalista w zakresie druku offsetowego. Od tego czasu standaryzacja Pan4C została zastosowana w wielu europejskich drukarniach. Wdrożenie systemu i szkolenie w drukarni MWV Manufacturing Bydgoszcz zostało przeprowadzone przez Dietera Kirchnera przy współudziale firmy Heidelberg Polska, która ma wyłączność na sprzedaż systemu Pan4C w Polsce. „Stosowana powszechnie metoda standaryzacji procesu druku według norm ISO/PSO jest tylko częściowo pomocna, bo nie gwarantuje stabilności procesu druku, a różnice w przyrostach punktu poszczególnych maszyn i zespołów niweluje poprzez ingerencję w krzywą CTP, a tym samym w gradację obrazu – stwierdza Dieter Kirchner. – Powszechne problemy ze schnięciem farb załatwia się nałożeniem warstwy lakieru dyspersyjnego, co generuje dodatkowe koszty.” „Podstawowym założeniem metody standaryzacji Pan4C jest uzyskanie optymalnego i stabilnego druku w maszynie offsetowej poprzez idealne ustawienie balansu farba-woda w każdym zespole drukującym. Krzywa CTP w stosunku do krzywej linearnej powinna uwzględniać jedynie technologiczny przyrost punktu w maszynie offsetowej” – dodaje Dieter Kirchner. System standaryzacji Pan4C bazuje na zestawie form testowych: do standaryzacji prepress, do standaryzacji maszyny drukującej, do standaryzacji procesu produkcji offsetowej. W standaryzacji Pan4C kluczowa jest tzw. analityczna forma testowa, na podstawie której można rozpoznać przyczyny większości problemów technicznych druku offsetowego takich jak: odciąganie, problemy ze schnięciem, paskowanie, wahania wartości tonalnych, nadmierne emulgowanie farby, nierównomierny druk użytków, rozdział farby, jakość farby, jakość dodatków do wody zwilżającej i środków pomocniczych, poprawność ustawienia i jakość wałków. Wszystkie formy testowe Pan4C mają wspólne pola pomiarowe do kontroli balansu farba-woda. Za pomocą tych pól pomiarowych można ustalić optymalną ilość środka nawilżającego dla emulsji farba-woda w każdym zespole drukującym. Ponieważ większość wymienionych wcześniej błędów procesu druku powodowanych jest przeważnie rodzajem, ilością lub zanieczyszczeniem środka nawilżającego, to błędy te mogą być usunięte lub zredukowane do minimum na podstawie analizy form testowych Pan4C. Analityczna forma testowa oraz pozostałe formy systemu Pan4C pozwalają uzyskać następujące założenia i cele stabilnej produkcji offsetowej: - ustalona jedna dla całej maszyny krzywa CTP z systemu Pan4C z pełnym przeniesieniem danych obrazu (pliku); - optymalny rozdział farby (balans farba-woda); - krótki czas rozpoczęcia czystego druku (ograniczenie makulatury); - przyrost punktu na całym arkuszu druku z tolerancją maks. 2 proc.; - minimalne, niewidoczne wahania wartości tonalnej w druku, dE poniżej 1,0, także przy niskich nakładach; - przewidywalny i bezpieczny druk nawet najmniejszych użytków na całym formacie arkusza; - szybka dalsza obróbka, 1-3 godziny po wydrukowaniu (matowy papier ilustracyjny); - brak odciągania nawet przy dużej ilości pokrycia farbą, do 400 proc. przy mniejszych elementach obrazu; - optymalna powtarzalność druku, także na kilku maszynach drukujących. Bieżąca kontrola jakości produkcji w systemie Pan4C odbywa się na zasadzie wzór-analiza. Poprzez standaryzację Pan4C pracownicy uczą się, jak opanować proces drukowania. To automatycznie prowadzi do wyższej produktywności. Jeśli wystąpią błędy, to mogą one być w krótkim czasie w obiektywny sposób wyjaśnione. Jest to ważne np. w przypadku reklamacji materiałowej. Wiele reklamacji dotyczących np. papieru jest zazwyczaj trudnych do udokumentowania. W przypadku nowych, nieznanych materiałów można ocenić ich właściwości i przydatność. To eliminuje ryzyko, że materiał niewłaściwej jakości doprowadzi do znacznych strat w produkcji. Opracowano na podstawie informacji firmy Heidelberg

cript>