Co to jest SPCczęœć III

6 Dec 2016 14:42

Podstawowym pojęciem z punktu widzenia metodyki SPC jest ăzmiennoœćÓ generowana przez szereg najróżniejszych przyczyn obecnych w procesie. Każdy parametr procesu technologicznego charakteryzuje się pewnš zmiennoœciš wartoœci powodowanš różnymi czynnikami, tj. stosowanymi materiałami, maszynami, metodami, udziałem człowieka, organizacjš pracy oraz stosowanymi urzšdzeniami pomiarowymi. Poszczególne mierzone wartoœci różniš się między sobš (nie sš jednakowe), a ich zbiór tworzy pewien wzór zmian okreœlany mianem rozkładu. Rozróżniamy dwa rodzaje zmiennoœci powodowane przyczynami zwykłymi lub szczególnymi. Przyczyny zwykłe odnoszš się do Ÿródeł zmiennoœci trwale obecnych w procesie i tworzš okreœlony rozkład analizowanego parametru. Tylko w obecnoœci przyczyn zwykłych proces jest stabilny i przewidywalny, a więc pod kontrolš statystycznš. Przyczyny szczególne pojawiajš się sporadycznie i powodujš zmiany w rozkładzie analizowanego parametru z jednoczesnym rozregulowaniem procesu. Zmiany powodowane przyczynami szczególnymi zwykle zwiększajš zmiennoœć, sprawiajš, że efekt procesu jest nieprzewidywalny; sš szkodliwe, dlatego należy je zidentyfikować i usunšć. Karty Shewhardta stanowiš najprostszš technikę oddzielania przyczyn zwykłych od specjalnych, czyli umożliwiajš ocenę, z jakiego rodzaju zmiennoœciš mamy do czynienia. Konstruowaniem kart i monitorowaniem procesu za ich pomocš zainteresowani mogš być: technolodzy, konstruktorzy, operatorzy i pracownicy bezpoœrednio zaangażowani w przebieg procesu. Najczęœciej stosowane karty kontrolne Shewhardta (wg PN-ISO 8258+AC1), do których zaliczamy karty dla właœciwoœci mierzalnych: Ľ karta wartoœci œredniej i rozstępu Ľ karta wartoœci œredniej i odchylenia standardowego Ľ karta pojedynczych obserwacji i ruchomego rozstępu Ľ karta mediany i rozstępu oraz karty według oceny alternatywnej: Ľ karta np liczby jednostek niezgodnych Ľ karta p frakcji jednostek niezgodnych Ľ karta c liczby niezgodnoœci Ľ karta u niezgodnoœci na jednostkę Technika konstruowania kart kontrolnych dla właœciwoœci mierzalnych wymaga posługiwania się narzędziami statystycznymi: Gromadzenie danych Đ zbieranie danych dla okreœlonego parametru (procesu lub produktu) i przetwarzanie do postaci umożliwiajšcej naniesienie ich na kartę kontrolnš. Ľ Należy okreœlić licznoœć próbki, tak aby zmiennoœć wewnštrz próbki była stosunkowo mała (zwykle od 4 do 5 elementów). Ľ Częstoœć pobierania próbek we wstępnej fazie badania powinna odbywać się w krótkich odstępach czasu. Potem okres pobierania próbek może wzrastać (raz na godzinę, dwa razy w cišgu zmiany). Ľ Liczba próbek stanowišca dobrš podstawę testu na stabilnoœć to 25 lub więcej próbek zawierajšcych około 100 lub więcej indywidualnych wartoœci. Konstruowanie torów kart kontrolnych Đ obliczanie linii kontrolnych, które stanowiš punkt odniesienia do analizy danych. Podstawowe parametry opisowe; Ľ Œrednia arytmetyczna Ľ Wariacja Ľ Odchylenie standardowe Ľ Rozstęp Ľ Œrednia procesu Ľ Œredni rozstęp Ľ Œrednie odchylenie standardowe n Đ licznoœć próbki xi Đ i-ta wartoœć badanej cechy k Đ liczba próbek Wartoœci górnej (GLK) i dolnej (DLK) linii kontrolnej wyliczane sš za pomocš podstawowych parametrów oraz specjalnych współczynników do obliczania granic kontrolnych znajdujšcych się w normie PN ISO 8258+AC1. W następnej częœci Đ omówienie kolejnych narzędzi do konstruowania kart oraz przykładowe karty kontrolne. cdn.