Centrum Innowacji i Rzeczoznawstwa Oddziału Warszawskiego SIMP zaprasza na II Konferencję Naukowo-Techniczną „MODERN INDUSTRY - Nowe Technologie w Przemyśle”. Konferencja odbędzie się w Międzynarodowym Centrum Targowo-Konferencyjnym Ptak Warsaw EXPO podczas III Międzynarodowych Targów Warsaw Industry Week w dniu 6 listopada w godz. 12.00-16.00.
Konferencja „MODERN INDUSTRY” ma na celu zaprezentowanie nowych technologii, nowoczesnych metod wdrażania innowacji oraz zarządzania przedsiębiorstwami produkcyjnymi.
Prelegentami konferencji „MODERN INDUSTRY” w pierwszej sesji będą przedstawiciele polskiej nauki prezentujący innowacyjne osiągnięcia instytutów oraz uczelni. W drugiej sesji zaprezentują się przedstawiciele firm, które odnoszą sukcesy we wdrażaniu nowych technologii oraz innowacyjnym i efektywnym zarządzaniu przedsiębiorstwem.
Program Konferencji:
10.30 Rejestracja uczestników
12.00 Otwarcie konferencji
12.15 Sesja I – Badania naukowe jako droga rozwoju dla przedsiębiorstw:
mgr inż. Sylwia Przybysz – Instytut Wysokich Ciśnień PAN – Wpływ wysokich ciśnień hydrostatycznych na właściwości mechaniczne oraz strukturalne tworzyw sztucznych
dr hab. inż. Joanna Ryszkowska prof. PW - Wydział Inżynierii Materiałowej PW - Zastosowanie produktów ubocznych przemysłu rolno-spożywczego w przetwórstwie materiałów polimerowych
mgr Anna Żmijewska – Wydział Nauk Prawnych PAN – Oprogramowanie w procesach technologicznych jako przedmiot prawa autorskiego
dr inż. Joanna Kossakowska - Wydział Inżynierii Produkcji PW - Wpływ niekonwencjonalnej metody przeróbki plastycznej na poprawę skrawalności metali lekkich
13.20 Spotkanie z ekspertami
13.30 Przerwa kawowa
13.50 Sesja II – Praktyczne przykłady komercjalizacji badań naukowych w przemyśle:
dr inż. Robert Pietrasik, dr inż. Sylwester Pawęta - HART-TECH Sp. z o.o. - Nauka, biznes i systemy zarządzania jakością w hartowni usługowej
dr inż. Mariusz Kulczyk, dr inż. Jacek Skiba – UNIPRESS EXTRUSION Sp. z o.o. – Zastosowanie ultrawytrzymałych stopów lekkich na elementy złączne
Maciej Wojcieszczyk - IM S.C. A. BIELICKI, C. ŚCISIŃSKI - Inteligentna diagnostyka wad produkcyjnych przy użyciu promieniowania rentgenowskiego i systemów teleinformatycznych.
Aneta Szczesna-Kowalska - CIECH SA, Ewa Rosik-Ogłaza CERTES Sp. z o.o.- Wdrożenie spójnego systemu zarządzania. Kluczowe narzędzia w pracy menedżera w firmie produkcyjnej
15.30 Podsumowanie konferencji i wręczenie wyróżnień
15.30 – 16.00 Networking
Program warsztatów i szkoleń:
Product servitization – prowadzenie firma CERTES
Czy zastanawiałeś się, w jaki sposób 3-krotnie podnieść marżę?
Jak zwiększyć przychody ze sprzedaży na obecnym portfelu produktów?
Chciałbyś, aby Twoje produkty były bardziej dostosowane do potrzeb klienta?
Jak zwiększyć zakres prowadzonej działalności bez ponoszenia nakładów inwestycyjnych?
Jak zwiększyć kreatywność pracowników?
Termin: godz. 11:00 – 12:30 w II dniu targów.
Warsztaty bezpłatne po wcześniejszym zgłoszeniu.
Podstawy oceny technicznej oraz wyceny maszyn i urządzeń – prowadzenie Towarzystwo Rzeczoznawców Majątkowych SIMP
Identyfikacja i metodologia przeprowadzania oględzin do wyceny
Najważniejsze cechy maszyn i urządzeń dedykowane wycenie
Kryteria wpływające na wartość maszyn i urządzeń
Jak eksploatować i dokumentować pracę maszyn i urządzeń, żeby ich wysoka wartość utrzymywała się jak najdłużej?
Termin: godz. 13:00 – 14:00 w II dzień targów oraz godz. 11:00 – 12:00 w III dniu targów.
Warsztaty bezpłatne po wcześniejszym zgłoszeniu.
Uprawnienie energetyczne – szkolenie i egzamin – prowadzenie Centrum Innowacji i Rzeczoznawstwa SIMP
Szkolenie w I Grupie energetycznej elektrycznej w zakresie Eksploatacji – urządzenia, instalacje i sieci elektroenergetyczne wytwarzające, przetwarzające, przesyłające i zużywające energię elektryczną przy czynnościach obsługi, konserwacji, remontów, montażu oraz kontrolno-pomiarowych.
Termin: szkolenie godz. 14:00 w II dniu targów, godz. 13:00 w III dniu targów.
Egzaminy kwalifikacyjne godz. 15:00 w I, II i III dniu targów.
Szkolenie i egzamin są płatne i wymagają wcześniejszego zgłoszenia.